以下关于平行平板多光束干涉的正确观点是( )。
A: 其反射光的干涉条纹是很细的环状亮条纹
B: 其反射及透射光的干涉亮条纹位置一一对应
C: 其透射光干涉亮条纹的粗细与平板表面反射比ρ有关
D: 马赫曾德干涉仪是平板多光束干涉的应用之一
A: 其反射光的干涉条纹是很细的环状亮条纹
B: 其反射及透射光的干涉亮条纹位置一一对应
C: 其透射光干涉亮条纹的粗细与平板表面反射比ρ有关
D: 马赫曾德干涉仪是平板多光束干涉的应用之一
C
举一反三
- 以下关于平行平板多光束干涉的正确观点是( )。 A: 其反射光的干涉条纹是很细的环状亮条纹 B: 其透射光干涉亮条纹随平板表面反射比ρ的增大而变粗 C: 其反射及透射光的干涉亮条纹位置一一对应 D: 光学薄膜、干涉滤光片的工作是基于平板多光束干涉的原理
- 平行平板的多光束干涉中，随平板反射率的增加，透射光的干涉条纹可见度越（）。
- 光的干涉可形成等倾干涉与等厚干涉，下列表述正确的是（） A: 平行平板形成的等倾干涉条纹为同心圆环条纹，环心为低级次条纹 B: 楔形平板形成的等厚干涉条纹为平行于楔棱的条纹，楔棱处厚度为零，形成明纹 C: 对于一定的入射角，平行平板上下表面反射（或透射）的光具有相同的光程差，因而形成同一条纹，称为等倾干涉条纹 D: 平行平板反射光与透射光的干涉条纹总是一样的
- 若平行平板透射光形成的等倾干涉条纹的中央是亮圆环，那么反射光形成的等倾干涉条纹的中央是暗的。（ ）
- 薄膜干涉实验的透射光干涉条纹和反射光干涉条纹互补
内容
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在薄膜干涉实验中，观察到反射光的等倾干涉条纹的中心是亮斑，则此时透射光的等倾干涉条纹中心是［ ］
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平行平板多光束干涉与双光束干涉条纹的异同表现在: A: 均为等厚干涉条纹 B: 均为同心圆条纹,条纹位置不同 C: 均为同心圆条纹,条纹位置相同 D: 条纹细锐程度相同
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用扩展光源照射平行平板 A: 会形成定域干涉条纹，且定域面在无穷远处。 B: 平板越厚，中心条纹的干涉级次越高。 C: 反射场和透射场的干涉条纹相同。 D: 入射光波长越长，条纹间隔越稀。
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用扩展光源照射平行平板 A: 会形成定域干涉条纹，且定域面在无穷远处。 B: 平板越厚，由心条纹的干涉级次越高。 C: 反射场和透射场的干涉条纹相同。 D: 入射光波长越长，条纹间隔越稀。
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在薄膜干涉实验中，观察到反射光的等倾干涉条纹的中心是亮斑，则此时透射光的等倾干涉条纹中心是 A: 亮斑 B: 暗斑 C: 不是亮斑，就是暗斑 D: 既不是亮斑，也不是暗斑