（）是用细聚焦的电子束轰击样品表面，通过电子 与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等 对样品表面或断口形貌进行观察和分析。
A: 透射电子显微镜
B: 扫描电子显微镜
A: 透射电子显微镜
B: 扫描电子显微镜
B
举一反三
- 在扫描电子显微镜中,下列哪种电子信息可同时对样品的表面形貌和元素的原子序数进行表征() A: 二次电子 B: 背散射电子 C: 俄歇电子 D: 吸收电子
- 高能电子束轰击固体样品表面，产生的物理信号有 A: 二次电子 B: 背散射电子 C: 吸收电子 D: 透射电子 E: 俄歇电子
- 电子束与固体样品相互作用产生的信号中，能产生表面形貌衬度的有（ ）。 A: 背散射电子 B: 俄歇电子 C: 吸收电子 D: 二次电子
- 样品在电子束的轰击下会产生的信号有：背散射电子、二次电子、吸收电子、透射电子、特征X射线、俄歇电子等。
- 扫描电子显微镜主要是利用聚焦电子束对物质作用产生的（ ）对物质进行微区形貌分析。 A: 二次电子 B: 透射电子 C: 俄歇电子 D: 近核电子
内容
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使用扫描电镜对样品表面进行观察时，对表面形貌敏感的信号是 A: 背散射电子 B: 吸收电子 C: 二次电子 D: 俄歇电子
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在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做（ ）。 A: 二次电子 B: 背散射电子 C: 俄歇电子 D: 透射电子
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在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品原子的核外电子称为（ ）。 A: 俄歇电子 B: 透射电子 C: 二次电子 D: 背散射电子
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EPMA-SEM基于（ ）、（ ）等进行形貌观察。 A: 二次电子、吸收电子 B: 透射电子、背散射电子 C: Auger电子、二次电子 D: 二次电子、背散射电子
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扫描电子显微镜是以电子束作为照明源，聚焦后以（ ）方式照射到样品表面，产生与样品表面相关的电子信号，用探测器加以收集和处理，从而获得样品表面微观形貌的放大图像。