原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）
A: 原子荧光分析法
B: X射线荧光分析法
C: X射线吸收分析法
D: X射线发射分析法
A: 原子荧光分析法
B: X射线荧光分析法
C: X射线吸收分析法
D: X射线发射分析法
举一反三
- 荧光X射线依据（）进行元素定量分析 A: 荧光X射线的波长 B: 荧光X射线的强度 C: 特征X射线的能量 D: X射线的发射强度
- X射线荧光就是（）的X射线 A: 光源发射的X射线 B: 透过被分析样品的X射线 C: 被分析样品在X射线照射下发出的X射线 D: 分析样品本身发出的X射线
- 试样受X射线照射后，其中各元素原子的（）被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线，或称为X射线荧光。 A: 外层电子 B: 内层电子 C: 原子 D: 高能电子
- 试样受X射线照射后，其中各元素原子的（）被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线，或称为X射线荧光。 A: A外层电子 B: B内层电子 C: C原子 D: D高能电子
- X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。