有关磁共振成像中卷褶伪影的产生原因，正确的是（）
A: 检查部位超出扫描野
B: 检查部位小于扫描野
C: TR时间太长
D: TE时间太长
E: TR时间太短
A: 检查部位超出扫描野
B: 检查部位小于扫描野
C: TR时间太长
D: TE时间太长
E: TR时间太短
A
举一反三
- 关于磁共振成像中卷褶伪影产生原因的描述，正确的是 A: 检查部位超出FOV范围 B: 检查部位小于FOV范围 C: 常出现在频率编码方向 D: 扫描层面较厚 E: 层间干扰
- 关于磁共振成像中卷褶伪影产生原因的描述，正确的是（） A: 检查部位超出FOV范围 B: 检查部位小于FOV范围 C: 常出现在频率编码方向 D: 扫描层面较厚 E: 层间干扰
- 造成卷褶伪影主要是因为 A: 视场的范围超出被检查的解剖部位 B: 被检查的解剖部位超出视场的范围 C: TR过大 D: TE过大 E: 扫描时间过长
- 卷褶伪影产生的主要是原因是() A: 被检查的解剖部位超出了视场范围 B: TR过大 C: 视场的范围超出被检查的解剖部位 D: TE过大 E: 扫描时间过长
- 磁共振成像扫描参数,不直接影响采集时间的是( ) A: TR B: 回波链长度(ETL) C: TE D: 激励次数 E: 矩阵
内容
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关于扫描野和重建野的说法，错误的是 A: 无论任何部位成像，扫描野应该大于重建野 B: 扫描野必须以扫描架中心为中心 C: 重建野一般和检查部位匹配 D: 重建野越小，空间分辨力越大 E: 扫描野越大，空间分辨力越小
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SE序列MR检查时，扫描层数的多少是由那个参数来决定的（） A: 由TR和最大回波时间TE B: 扫描野的大小 C: 梯度场强度 D: 频率编码方向 E: 相位编码方向
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信号平均次数正确的理解是（） A: 在K空间里特定行被采集的次数 B: 在K空间里的数字 C: 是TR的时间 D: 是TE的时间 E: 是扫描野的大小
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造成卷褶伪影主要是因为（） A: 视场的范围超出被检物体 B: 被检物体超出视场的范围 C: TR过大 D: TE过大 E: 扫描时间过长
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关于重复时间（TR）的叙述，正确的是（）。 A: TR长，被RF激发后质子的弛豫恢复好 B: TR延长，信噪比提高 C: TR长，可允许扫描的层数增多 D: TR长，检查时间缩短 E: TR长，T<sub>1</sub>权重增加