如果是双因素重复测量设计，需要 名被试
A: 120
B: 40
C: 60
D: 20
A: 120
B: 40
C: 60
D: 20
举一反三
- 2.3随机设计，如果每个处理水平需要20个被试，共需要名被试 A: 120 B: 40 C: 60 D: 20
- 如果a是随机，b是重复测量呢 A: 120 B: 40 C: 60 D: 20
- 在无交互作用的双因素方差分析中，如果SSA=SSE=20，SST=100，则SSB为（）。 A: 20 B: 80 C: 60 D: 40
- 前后测及重复测量设计都属于被试内设计。
- CP8Audit缺陷等级对应的分值：A1类项（）分，A类项（）分，B1类项（）分，B类项（）分，C1类项（）分，C类项（）分。 A: 140、80、60、40、20、10 B: 160、120、60、40、20、10 C: 120、80、60、40、20、10 D: 140、100、60、40、20、10