射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从（）黑度分布和位置进行综合分析。
A: 缺陷影像的几何形状
B: 缺陷影像的厚度
C: 缺陷影像的大小
D: 缺陷影像的长度
A: 缺陷影像的几何形状
B: 缺陷影像的厚度
C: 缺陷影像的大小
D: 缺陷影像的长度
举一反三
- 从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（） A: 胶片粒度 B: 底片上缺陷影像的不清晰度 C: 底片上缺陷影像的对比度 D: 以上都是
- 从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（） A: A胶片粒度 B: B底片上缺陷影像的不清晰度 C: C底片上缺陷影像的对比度 D: D以上都是
- 射线探伤时,有缺陷部位感光强度大,在底片上形成黑色影像.可以据此判断缺陷。
- 工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（） A: A影像重叠 B: B影像畸变 C: C影像放大 D: D以上都有可能
- 在底片的评定中，一般根据底片上影像的什么来判断缺陷性质？（） A: 数量和密度 B: 形状 C: 大小和位置 D: b和c