测量半导体导带底电子有效质量的实验方法是
A: X射线衍射;霍尔效应
B: 中子非弹性散射
C: 回旋共振
D: 霍尔效应
A: X射线衍射;霍尔效应
B: 中子非弹性散射
C: 回旋共振
D: 霍尔效应
举一反三
- 晶体结构的实验研究方法是下列哪种？ A: X射线衍射 B: 中子非弹性散射 C: 回旋共振 D: 霍尔效应
- 电子有效质量的实验研究方法是（）。 A: X射线衍射 B: 中子非弹性散射 C: 回旋共振 D: 霍耳效应
- 一种有效而直观地测量有效质量的实验方法是？ A: 回旋共振实验 B: 霍尔效应实验 C: 磁阻效应实验 D: 热电效应实验
- 一种有效而直观地测量有效质量的实验方法是？ A: 回旋共振实验 B: 霍耳效应实验 C: 磁阻效应实验 D: 热电效应实验
- 下列关于霍尔效应的描述错误的是（ ） A: 霍尔效应是通电的导体或半导体在磁场中产生横向电压的一种效应。 B: 利用霍尔效应可以测量磁场 C: 利用霍尔效应可以判断半导体材料的载流子类型和浓度 D: 不存在量子霍尔效应