透射式高能电子衍射只适用于对薄层样品的分析的原因在于与X射线相比，电子穿透能力差。
举一反三
- 被高能入射电子轰击出来的样品核外电子，被称之为： A: 背散射电子 B: 透射电子 C: 次级电子 D: 特征X射线
- 电子与物质的相互作用时（） A: 入射电子束可以被聚焦 B: 入射电子与样品原子发生弹性散射，散射波相互干涉形成衍射波 C: 入射能量为10~200 KeV的高能电子穿透能力比X射线强，可用于薄膜分析 D: 入射能量为10~500 eV的低能电子可用于分析样品表面1-5个原子层的结构信息
- 电子与物质的相互作用时,产生的透射电子可以用作:() A: 电子背散射衍射分析 B: 二次电子成像 C: X射线能谱分析 D: 透射电子显微镜
- 透射电子显微镜，由电子的穿透能力很弱（比X射线弱很多），所以样品必须很 ，样品的厚度控制在100～200nm为宜。
- 透射电子显微镜配置选区电子衍射装置，使得薄膜样品的结构分析与形貌观察有机结合，是X射线衍射无法比拟的优点。