用电阻应变片测量构件的变形，影响电阻应变片电阻变化的因素有：应变片的（）和初始阻值、被测构件的（）、以及应变片沿构件的粘贴方向。（因为：△R=KεR，K为灵敏度，R为应变片初始阻值，ε被测构件的应变量）
举一反三
- 将电阻应变片粘贴于待测构件上，应变片的电阻将随构件的应变而改变，将应变片电阻接入相应的电路中，使其阻值变化转化为输出，即可测出力值
- 电阻应变片的灵敏度为______。 A: 应变片电阻丝的电阻变化率与应变值之比 B: 应变片电阻丝的电阻变化率与被测试件的应变值之比 C: 应变片的输出电压与应变值之比
- 金属丝应变片在测量某一构件的应变时,引起其电阻相对变化的原因为（ ）。 A: 应变片几何尺寸的变化 B: 应变片电阻率的变化 C: 应变片压阻系数的变化 D: 应变片灵敏度的变化
- 有一电阻应变片，灵敏度系数K=2，电阻R=120Ω。设其工作时应变为1000με。求应变片的电阻变化量△R；
- 电阻应变片的灵敏度为()。A.()应变片电阻丝的电阻变化率与应变值之比B.()应变片电阻丝的电阻变化率与被测试件的应变值之比C.()应变片的输出电压与应变值之比D.()应变片的输入电压与应变值之比