关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 公告:维护QQ群:833371870,欢迎加入!公告:维护QQ群:833371870,欢迎加入!公告:维护QQ群:833371870,欢迎加入! 2022-06-09 当测量较小应变值时,应选用()工作的应变片,而测量大应变值时,应选用压阻效应工作的应变片,后者应变片阻值的相对变化主要由材料电阻率的相对变化来决定。 当测量较小应变值时,应选用()工作的应变片,而测量大应变值时,应选用压阻效应工作的应变片,后者应变片阻值的相对变化主要由材料电阻率的相对变化来决定。 答案: 查看 举一反三 5.当测量较小应变值时,应选用电阻效应工作的应变片,而测量大应变值时,应选用效应工作的应变片,后者应变片阻值的相对变化主要由材料的相对变化来决定。 当测量较小应变值时应选用()效应工作的应变片,而测量大应变值时应选用()效应工作的应变片。 金属丝应变片在测量某一构件的应变时,引起其电阻相对变化的原因为( )。 A: 应变片几何尺寸的变化 B: 应变片电阻率的变化 C: 应变片压阻系数的变化 D: 应变片灵敏度的变化 测量小应变时,应选用金属丝应变片;测量大应变时,应选用半导体应变片。 测量小应变时,应选用金属丝应变片;测量大应变时,应选用半导体应变片。