Which code fragment， inserted at line 23， allows the code to compile？（） A: df = new DateFormat（）； B: df = Date.getFormat（）； C: df = date.getFormat（）； D: df = DateFormat.getFormat（）； E: df = DateFormat.getInstance（）；

DF检验的描述正确的是： A: DF检验的零假设是“序列平稳” B: DF检验的零假设是“序列非平稳” C: DF检验是双侧检验 D: DF检验是单侧检验 E: DF检验包含序列差分的滞后项

检查小型机文件系统磁盘空间分配的命令（） A: df -a B: df -k C: df -i D: df -c

有关DF检验的说法正确的是()。 A: DF检验的零假设是“被检验时间序列平稳” B: DF检验的零假设是“被检验时间序列非平稳” C: DF检验是单侧检验 D: DF检验的临界值均为负值 E: DF检验有三种检验形式

在一线圈回路中，规定满足如图所示的旋转方向时，电动势ε, 磁通量Φ为正值。若磁铁沿箭头方向进入线圈，则[img=313x153]17e0b2328c60d7d.png[/img] A: dF /dt<; 0, e <;0 B: dF/dt>; 0,e<;0 C: dF /dt>;0,e>;0 D: dF /dt<; 0, e>; 0

设为k个样本的资料，其方差同质性测验的自由度df为( ) A: df=k－2 B: df=k－１ C: df=1 D: df=k－m

设为k个样本的资料,其方差同质性检验的自由度df为(<br/>)。 A: df=k-2 B: df=k-1 C: df=1 D: df=k-m

以下有关DF检验的说法正确的有（）。 A: DF检验的零假设是“被检验时间序列平稳” B: DF检验的零假设是“被检验时间序列非平稳” C: DF检验是单侧检验 D: DF检验是双侧检验 E: DF检验包含序列差分的滞后项

（V0.26）下面ADS-B数据包中FSPEC字段为（ ）？ A: FB B5 DF B: B5 DF 86 C: FB B5 DF 86 D: B5 DF

已定义下列变量：  int n;   float f;     double df; df=10;  n=2;  下列语句正确的是（） A:  f=12.3； B:  n=df； C:  df=n=100； D:  f=df；