CPⅢ平面控制测量仪器精度应在6″以上。
CPⅢ平面控制测量仪器精度应在6″以上。
没有下限控制指标时，其工序能力指数的计算公式为：CP=（TU―μ）/6σ
没有下限控制指标时，其工序能力指数的计算公式为：CP=（TU―μ）/6σ
CP有常规CP和扩展CP两种
CP有常规CP和扩展CP两种
TD-LTE系统CP有常规CP和（ ） CP。
TD-LTE系统CP有常规CP和（ ） CP。
GPS测量用于建立CPⅠ、CPⅡ、CPⅢ控制网。
GPS测量用于建立CPⅠ、CPⅡ、CPⅢ控制网。
复制目录所用命令 A: cp -d B: cp -f C: cp -r D: cp -p
复制目录所用命令 A: cp -d B: cp -f C: cp -r D: cp -p
TD-LTE中,扩展CP一个时隙包含几个符号?( ) A: 5 B: 6 C: 7 D: 8
TD-LTE中,扩展CP一个时隙包含几个符号?( ) A: 5 B: 6 C: 7 D: 8
解释下列两个while循环的差别：const char*cp="hello"；int cnt；while（cp）{++cnt；++Cp；}while（*cp）{++cnt；++cp；}
解释下列两个while循环的差别：const char*cp="hello"；int cnt；while（cp）{++cnt；++Cp；}while（*cp）{++cnt；++cp；}
在△ABC中，∠BAC=∠ABC=45°，点P在AB上，AD⊥CP，BE⊥CP，垂足分别为D、E，已知DC=2，则BE=( )． A: 2 B: 3 C: 4 D: 5 E: 6
在△ABC中，∠BAC=∠ABC=45°，点P在AB上，AD⊥CP，BE⊥CP，垂足分别为D、E，已知DC=2，则BE=( )． A: 2 B: 3 C: 4 D: 5 E: 6
一级工艺的工艺能力系数Cp为()。 A: Cp≤0.67 B: 1.0≥Cp＞0.67 C: 1.33≥Cp＞1.00 D: 1.67≥Cp＞1.33
一级工艺的工艺能力系数Cp为()。 A: Cp≤0.67 B: 1.0≥Cp＞0.67 C: 1.33≥Cp＞1.00 D: 1.67≥Cp＞1.33