在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越（）
A: 大
B: 小
C: 不影响
D: 不一定
A: 大
B: 小
C: 不影响
D: 不一定
A
举一反三
- 在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（） A: 耦合不良 B: 缺陷面积大于声束截面 C: 存在与声束垂直的平面型缺陷 D: 以上都不是
- 在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（） A: 耦合不良 B: 缺陷面积大于声束截面 C: 存在与声束垂直的平面型缺陷 D: 以上都不是
- 一般声束指向角越小，则主声束越窄，声能量越集中，从而可以提高对缺陷的分辨能力以及准确判断缺陷的位置。
- 在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（） A: A耦合不良 B: B缺陷面积大于声束截面 C: C存在与声束垂直的平面型缺陷 D: D以上都不是
- 16.一般声束指向角越小,则主声束越窄,声能量越集中,从而可以提高对缺陷的分辨能力以及准确判断缺陷的位置。( ) A: √ B: ×
内容
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用广角探头探伤，当缺陷反射面与声轴不垂直，而与声束扩散边缘的声射线时，反射波也能被探头接收（） A: 平行 B: 有一定倾角 C: 不垂直 D: 垂直
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当射源（或焦点）尺寸一定时，被透工件的缺陷尺寸越小，则（） A: 影像放大率Mf数越小，因而缺陷越难发现 B: 影像放大率Mf数越大，而缺陷越难观察 C: 形状修正系数σ越大，因而缺陷检出率越低 D: 以上都不是
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当射源（或焦点）尺寸一定时，被透工件的缺陷尺寸越小，则（） A: A影像放大率Mf数越小，因而缺陷越难发现 B: B影像放大率Mf数越大，而缺陷越难观察 C: C形状修正系数σ越大，因而缺陷检出率越低 D: D以上都不是
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当射源（或焦点）尺寸一定时，被透工件的缺陷尺寸越小，则（） A: 影像放大率Mf数越小，因而缺陷越难发现\n B: 影像放大率Mf数越大，而缺陷越难观察\n C: 形状修正系数σ越大，因而缺陷检出率越低\n D: 以上都不是
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下列哪种方法适用于评定尺寸大于声束截面的缺陷（） A: 当量法 B: 缺陷回波高度法 C: 底面回波高度法 D: 缺陷指示长度测定法