背散射电子的性质是（）
A: 产生范围在表层100~1000 nm内
B: 产额随原子序数增加而增加
C: 可用于样品的表面形貌分析
D: 可用于样品的表面成分分析
A: 产生范围在表层100~1000 nm内
B: 产额随原子序数增加而增加
C: 可用于样品的表面形貌分析
D: 可用于样品的表面成分分析
A
举一反三
- 有关背散射电子的性质正确的是( )。 A: 产生范围在表层5~ 10nm内 B: 产额随原子序数增加而增加 C: 可用于样品的表面形貌分析 D: 可用于样品的表面成分分析，但不能确定成分
- 电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（ ）的增加而增多。 A: 表面形貌 B: 厚度 C: 表面面积 D: 原子序数
- 背散射电子能量高，可用做形貌分析、成分分析，其产额随原子序数增大而减少。 A: 正确 B: 错误
- 背散射电子像的特点是() A: 分辨率高 B: 显示样品微区的成分分布状况 C: 可以显示样品的表面形貌 D: 可以用于分析晶体取向结构
- 二次电子是在入射电子作用下，被轰击出来并离开样品表面的样品原子的核外电子，来自表层5~10nm的浅层区域，其产额与样品原子序数没有明显依赖关系，它对样品表面微区形貌敏感，可有效反映样品表面形貌。
内容
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扫描电子显微镜中,下列关于背散射电子的正确说法是_______。 A: 包括弹性背散射电子和非弹性散射背散射电子； B: 产生于样品表层几百纳米的深度范围； C: 能量范围较宽，从几十到几万电子伏特； D: 产额随样品平均原子序数增大而增大，所以背散射电子像的衬度可反映对应样品位置的平均原子序数； E: 主要用于定性分析材料的成分分布和显示相的形状和分布。
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（）是用细聚焦的电子束轰击样品表面，通过电子 与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等 对样品表面或断口形貌进行观察和分析。 A: 透射电子显微镜 B: 扫描电子显微镜
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电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1 nm厚表层成分的信号是 A: 二次电子 B: 背散射电子 C: 俄歇电子 D: 特征X射线
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背散射电子特征是（） A: 其能量与入射电子的能量相近，运动方向受收集极电场的影响 B: 背散射电子发射量随元素表面原子的原子序数的增加而增加 C: 背散射电子不随元素表面原子的原子序数的变化而变化 D: 背散射电子能量与入射电子的能量相差很大
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原子力显微镜可以用于研究() A: 样品的表面形貌 B: 样品的表面摩擦性能 C: 样品的表面粘弹性 D: 样品的表面化学