SEM主要通过接收哪种粒子来分析样品形貌（ ）
A: 背散射电子
B: 特征X射线
C: 二次电子
A: 背散射电子
B: 特征X射线
C: 二次电子
举一反三
- 入射电子束和固体相互作用产生多种信号,用于形貌分析的信号有() A: 二次电子、特征X射线 B: 背散射电子、特征X射线 C: 二次电子、俄歇电子 D: 二次电子、背散射电子
- 仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（ ）。? 二次电子|背散射电子|特征X射线;|俄歇电子
- 扫描电镜用于形貌分析的物理信号是（ ）。 A: 特征X射线 B: 反冲电子 C: 俄歇电子 D: 二次电子、背散射电子
- 扫描电子显微镜用于形貌分析的物理信号是（ ） A: 反冲电子 B: 俄歇电子 C: 二次电子、背散射电子 D: 特征X射线
- 2. 扫描电镜用于形貌分析的物理信号是 A: （A）二次电子、背散射电子 B: （B）特征X射线 C: （C）俄歇电子 D: （D）反冲电子