在x射线衍射实验中,若已知晶体的晶格常数,可以测量x射线的谱线。(
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举一反三
- 通过x射线衍射可以测定晶体的晶格常数等参数
- 在X射线衍射实验中,一束波长为0.0850nm的射线在掠射角21.5°方向上出现第二级谱线.该晶体的晶格常数为() A: 0.126nm B: 0.232nm C: 1.381nm D: 1.869nm
- 在X射线衍射实验中，X射线以30°的掠射角射入晶格常数为2.52×10 -10m的晶体时出现第三级反射极大，X射线的波长为（ ）m。 A: 2.4×10-11 B: 3.6×10-11 C: 6.4×10-11 D: 8.4×10-11
- 关于晶体X射线衍射,下列哪个说法是正确的?() A: 单晶样品与X射线作用后,产生分立的衍射线; B: 粉末X射线衍射方法不能用来解析晶体结构; C: 已知实验X射线波长,可通过布拉格方程,将衍射角度换算成晶面簇距离; D: 在X射线衍射实验中无法记录结构因子的相角。
- 用晶格常数d =0. 275nm的晶体,作X射线衍射实验,若射线0.095~0.130nm波带中的各种波长,（1）当掠射角φ= 15° ,问是否可测得衍射极大?（2）φ=45°呢?如果可测得请算出相应级次和的X射线的波长.