X射线荧光光谱仪分析原理是什么？
荧光仪产生的一次X射线照射到试样上，产生带有试样所含元素的特征谱线的荧光X射线（二次射线）经入射狭缝、分光晶体分光，出射狭缝，留下某元素特征射线，由探测器进行测定，测出该元素的X射线强度，再由计算机进行强度←→含量曲线数据换算得出试样中该元素的含量。
举一反三
内容
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X射线荧光光谱仪均使用分光晶体。
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X射线荧光光谱仪可以有效地检测注油祖母绿。
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X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。
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能量色散型X射线荧光光谱仪也用晶体分光。()
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X-射线荧光光谱仪按其分光原理可以分为两类：（）、（）。