X射线形貌技术的试验方法有（）
A: 反射形貌法
B: 透射形貌法
C: 双晶光谱仪法
D: 异常透射法
A: 反射形貌法
B: 透射形貌法
C: 双晶光谱仪法
D: 异常透射法
A,B,C
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举一反三
- 下列测试方法中，能用于半导体材料表面形貌的检测方法是： A: 拉曼光谱 B: 表面光压法 C: X射线衍射 D: 扫描电子显微镜
- 如果要表征一个样品的形貌，可以采用以下哪种或者哪几种测试技术？ A: 扫描电子显微镜（SEM） B: X射线光电子能谱（XPS） C: 透射电子显微镜（TEM） D: X射线衍射分析（XRD） E: 红外光谱（IR）
- 透射电子显微镜配置选区电子衍射装置，使得薄膜样品的结构分析与形貌观察有机结合，是X射线衍射无法比拟的优点。
- 透射电子显微镜配置选区电子衍射装置，使得薄膜样品的结构分析与形貌观察有机结合，是X射线衍射无法比拟的优点。 A: 对 B: 错
- 电子束入射固体样品表面会激发出的信号中，哪一种能用来非常有效地显示样品的表面形貌 A: 二次电子 B: 背散射电子 C: 特征X射线 D: 透射电子
内容
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利用光谱仪，可以测量： A: 反射光谱 B: 其他都不正确 C: 吸收光谱 D: 透射光谱
- 1
对样品表面形貌进行表征采用的的是（ ） A: 扫描电子显微镜 B: X射线衍射 C: 拉曼光谱 D: 比表面积分析
- 2
常用于断口形貌分析的是 A: 二次电子像 B: 背散射电子像 C: 透射电子像 D: 吸收电子像
- 3
X射线能量色散谱可获得样品的（ ）信息。 A: 形貌 B: 成分 C: 结构 D: 衍射花样
- 4
表面形貌分析的手段包括（） A: X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM） B: SEM和透射电镜（TEM） C: 波谱仪（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS） D: 扫描隧道显微镜（STM）和SEM