用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其
回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至
此高度时衰减器读数是40dB则（）。
回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至
此高度时衰减器读数是40dB则（）。
举一反三
- 斜打70°探头（1、1A、3、3A通道）灵敏度调整 试块法：GTS－60C加长测试轨上，调节衰减器，探测轨头∮ mm横通孔，找出横通孔回波的最高点，调节衰减器使孔波波幅为80％，增益6dB
- 尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与 波束轴线（）。
- 处于同深度上的一个表面状态粗糙的缺陷和同样尺寸但表面光滑的缺陷，在相同 探伤灵敏度下且波束垂直射及时，后者的回波高度（）。
- 24.用双晶直探头检测t≤20mm板材时,缺陷第一次反射回波高度为( ),判为缺陷。 A: >40%
- 下列哪种方法适用于评定尺寸大于声束截面的缺陷（） A: 当量法 B: 缺陷回波高度法 C: 底面回波高度法 D: 缺陷指示长度测定法