下列哪种方法适用于评定尺寸大于声束截面的缺陷（）
A: 当量法
B: 缺陷回波高度法
C: 底面回波高度法
D: 缺陷指示长度测定法
A: 当量法
B: 缺陷回波高度法
C: 底面回波高度法
D: 缺陷指示长度测定法
举一反三
- 以下有关缺陷尺寸评定的描述，哪种是正确的（） A: 在确定的检测条件下，缺陷的大小可用波高值来表示 B: 缺陷反射面小于入射声束截面时，可用底面回波高度法进行评定 C: 缺陷回波幅度与人工反射体回波幅度进行比较，称为当量评定法 D: 以上都是
- 在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（） A: 耦合不良 B: 缺陷面积大于声束截面 C: 存在与声束垂直的平面型缺陷 D: 以上都不是
- 在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（） A: 耦合不良 B: 缺陷面积大于声束截面 C: 存在与声束垂直的平面型缺陷 D: 以上都不是
- 在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（） A: A耦合不良 B: B缺陷面积大于声束截面 C: C存在与声束垂直的平面型缺陷 D: D以上都不是
- 用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其 回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至 此高度时衰减器读数是40dB则（）。