原子力显微镜（）
A: 是利用原子间的吸引力来呈现样品的表面特性
B: 可以对导电样品或非导电样品进行观测
C: 利用硅悬臂上的硅针尖进行扫描
D: 探测针尖和样品之间作用力变化所导致的悬臂弯曲或偏转
A: 是利用原子间的吸引力来呈现样品的表面特性
B: 可以对导电样品或非导电样品进行观测
C: 利用硅悬臂上的硅针尖进行扫描
D: 探测针尖和样品之间作用力变化所导致的悬臂弯曲或偏转
A
举一反三
- 有关原子力显微镜描述正确的是（） A: 所谓原子力，这里是指针尖原子与材料表面原子之间存在着的极微弱的随距离变化的相互作用力 B: AFM有多种工作模式，例如接触式模式、非接触模式、轻敲模式、力调制模式、力曲线模式等等 C: 当针尖与样品距离很小时[<(0.2~0.25)纳米],针尖口端原子和样品表面原子间的作用力是引力。这种引力会使悬臂向上弯曲，偏离其原来的位置； D: 原子力显微镜的样品需要导电
- 在接触式原子力显微镜中，哪个描述是错误的（） A: 利用原子之间吸引力的变化来记录样品表面轮廓的起伏 B: 探针与样品的距离小于1 nm C: 针尖与样品有轻微的物理接触 D: 针尖与悬臂受范德瓦尔斯力和毛细力两种力的作用
- 接触式原子力显微镜可以利用原子之间吸引力的变化来记录样品表面的轮廓起伏。
- 下列关于原子力显微镜的描述，错误的是（） A: 样品在针尖下做光栅式运动 B: 记录微悬臂对应于扫描各点的位置变化，获得样品的表面形貌信息 C: 位敏光探测器可检测悬臂针尖小于1 nm的垂直运动 D: 位敏光探测器可实时监测微悬臂的变化
- 原子力显微镜(AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有分子级的分辨率。 A: 正确 B: 错误
内容
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原子力显微镜（AFM）与扫描隧道显微镜（STM）最大的差别在于并非利用电子（），而是检测原子之间的（）等来呈现样品的表面特性。
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扫描隧道显微镜基于原子导电针尖与导电样品表面的隧穿电流大小来实现纳米尺度的研究。（ ）
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原子力显微镜是利用探针尖端原子与物质表面原子之间的相互作用力来获得样品表面的相关信息 A: 正确 B: 错误
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与扫描隧道显微镜不同，原子力显微镜不受样品导电性质的限制。（ ）
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原子力显微镜的特点包括（）。 A: 原子力显微镜可获得包括导体和绝缘体的许多材料的原子级分辨率图像，不受样品导电性质的限制 B: 原子力显微镜可以在大气、真空、低温和高温、不同气氛以及溶液等各种环境下工作 C: 原子力显微镜成像范围小，成像速度快 D: 原子力显微镜的针尖会被所测量的材料所玷污，有的时候针尖会划伤所测量的表面