原子力显微镜(AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有分子级的分辨率。
A: 正确
B: 错误
A: 正确
B: 错误
举一反三
- 原子力显微镜是利用探针尖端原子与物质表面原子之间的相互作用力来获得样品表面的相关信息 A: 正确 B: 错误
- 在接触式原子力显微镜中，哪个描述是错误的（） A: 利用原子之间吸引力的变化来记录样品表面轮廓的起伏 B: 探针与样品的距离小于1 nm C: 针尖与样品有轻微的物理接触 D: 针尖与悬臂受范德瓦尔斯力和毛细力两种力的作用
- 原子力显微镜（） A: 是利用原子间的吸引力来呈现样品的表面特性 B: 可以对导电样品或非导电样品进行观测 C: 利用硅悬臂上的硅针尖进行扫描 D: 探测针尖和样品之间作用力变化所导致的悬臂弯曲或偏转
- 原子力显微镜（AFM）与扫描隧道显微镜（STM）最大的差别在于并非利用电子（），而是检测原子之间的（）等来呈现样品的表面特性。
- 扫描隧道显微镜和原子力显微镜都可达到原子级分辨率。