A: 凸起，且高度为λ/4
B: 凸起，且高度为λ/2
C: 凹陷，且深度为λ/2
D: 凹陷，且深度为λ/4
举一反三
- 用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷，当波长为λ的单色平行光垂直入射时，若观察到的干涉条纹如图2-3-3所示。每一条纹弯曲部分的顶点恰好与其右边条纹的直线部分的连线相切，则工件表面与条纹弯曲处对应的部分应（） A: 凸起，且高度为λ/4 B: 凸起，且高度为λ/2 C: 凹陷，且深度为λ/2 D: 凹陷，且深度为λ/4
- 用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷,当波长为λ的单色平行光垂直入射时,若观察到的干涉条纹如图5所示,每一条纹弯曲部分的顶点恰好与其左边条纹的直线部分的连线相切,则工件表面与条纹弯曲处对应的部分( )[img=196x131]17e0bcba59a90e0.jpg[/img]图5 A: 凸起,且高度为λ/4. B: 凸起,且高度为λ/2. C: 凹陷,且深度为λ/2. D: 凹陷,且深度为λ/4.
- 用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷,当波长为λ的单色平行光垂直入射时,若观察到的干涉条纹如图5所示,每一条纹弯曲部分的顶点恰好与其左边条纹的直线部分的连线相切,则工件表面与条纹弯曲处对应的部分( )[img=196x131]17e44636700ed78.jpg[/img]图5 A: 凸起,且高度为λ/4. B: 凸起,且高度为λ/2. C: 凹陷,且深度为λ/2. D: 凹陷,且深度为λ/4.
- 中国大学MOOC: 用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷，当波长为λ的单色平行光垂直入射时，若观察到的干涉条纹如图所示，每一条纹弯曲部分的顶点恰好与其左边条纹的直线部分的连线相切，则工件表面与条纹弯曲处对应的部分（）。http://img1.ph.126.net/md0g4YLhttd_rVoRj16WKQ==/6630100195466925283.png
- 劈尖干涉法可检测工件表面缺陷。当单色平行光垂直入射时，观察到的干涉条纹如图所示，每一条纹弯曲部分的顶点恰好与其右边条纹的直线部分的连线相切，则工件表面与条纹弯曲处对应的部分55ab0cade4b04cd76d4bb9cd.jpg
内容
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用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷，当波长为l 的单色平行光垂直入射时，若观察到到反射光干涉条纹(实线为暗条纹)如图所示。则干涉条纹上A点处所对应的空气薄膜厚度e及工件表面与条纹弯曲处对应的部分：[img=156x107]1802d1027589ff5.png[/img] A: e=3l / 2，凸起 B: e=3l / 2，凹陷 C: e=l / 2，凸起 D: e=l / 2，凹陷
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用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷，当波长为 l 的单色平行光垂直入射时，若观察到到反射光干涉条纹(实线为暗条纹)如图所示。则干涉条纹上A点处所对应的空气薄膜厚度e及工件表面与条纹弯曲处对应的部分：[img=332x214]17da6a67b2c6373.png[/img] A: e=3l / 2，凸起 B: e=l / 2，凸起 C: e=l / 2，凹陷 D: e=3l / 2，凹陷
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用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷，当波长为l 的单色平行光垂直入射时，若观察到到反射光干涉条纹(实线为暗条纹)如图所示。则干涉条纹上A点处所对应的空气薄膜厚度e及工件表面与条纹弯曲处对应的部分：[img=156x107]1802d1024502419.png[/img] A: e=3l / 2，凸起 B: e=3l / 2，凹陷 C: e=l / 2，凸起 D: e=l / 2，凹陷
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用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷，当波长为l 的单色平行光垂直入射时，若观察到到反射光干涉条纹(实线为暗条纹)如图所示。则干涉条纹上A点处所对应的空气薄膜厚度e及工件表面与条纹弯曲处对应的部分：[img=156x107]1803a8c3c49e39a.png[/img] A: e=3l / 2，凸起 B: e=3l / 2，凹陷 C: e=l / 2，凸起 D: e=l / 2，凹陷
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一光学平板玻璃A与待测工件B之间形成空气劈尖,用单色光垂直照射。看到的反射光的干涉条纹如图所示。条纹弯曲处说明：[img=359x86]18032524b68c0ac.jpg[/img] A: 条纹弯曲处对应的待测工件表面不平处为凸起。 B: 条纹弯曲处对应的待测工件表面不平处为凹槽。 C: 无法判断。 D: 待测工件表面整体凹陷。