A: 凸起,且高度为λ/4.
B: 凸起,且高度为λ/2.
C: 凹陷,且深度为λ/2.
D: 凹陷,且深度为λ/4.
举一反三
- 用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷,当波长为λ的单色平行光垂直入射时,若观察到的干涉条纹如图5所示,每一条纹弯曲部分的顶点恰好与其左边条纹的直线部分的连线相切,则工件表面与条纹弯曲处对应的部分( )[img=196x131]17e44636700ed78.jpg[/img]图5 A: 凸起,且高度为λ/4. B: 凸起,且高度为λ/2. C: 凹陷,且深度为λ/2. D: 凹陷,且深度为λ/4.
- 用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷,当波长为λ的单色平行光垂直入射时,若观察到的干涉条纹如图2-3-3所示。每一条纹弯曲部分的顶点恰好与其右边条纹的直线部分的连线相切,则工件表面与条纹弯曲处对应的部分应() A: 凸起,且高度为λ/4 B: 凸起,且高度为λ/2 C: 凹陷,且深度为λ/2 D: 凹陷,且深度为λ/4
- 用干涉法可检测工件表面的平整度。方法是:将光学平板玻璃放在待检工件表面,一端稍稍压紧,然后用一束波长为 λ 的单色平行光垂直照射。若观察到的干涉条纹如图所示,每一条纹弯曲部分的顶点恰好与其左边条纹的直线部分的连线相切,则工件表面与条纹弯曲处对应的表面缺陷是[img=190x259]18031983fb6366e.png[/img] A: 凸起,且高度为λ/4 B: 凸起,且高度为λ/2 C: 凹陷,且深度为λ/2 D: 凹陷,且深度为λ/4
- 中国大学MOOC: 用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷,当波长为λ的单色平行光垂直入射时,若观察到的干涉条纹如图所示,每一条纹弯曲部分的顶点恰好与其左边条纹的直线部分的连线相切,则工件表面与条纹弯曲处对应的部分()。http://img1.ph.126.net/md0g4YLhttd_rVoRj16WKQ==/6630100195466925283.png
- 劈尖干涉法可检测工件表面缺陷。当单色平行光垂直入射时,观察到的干涉条纹如图所示,每一条纹弯曲部分的顶点恰好与其右边条纹的直线部分的连线相切,则工件表面与条纹弯曲处对应的部分55ab0cade4b04cd76d4bb9cd.jpg
内容
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用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷,当波长为l 的单色平行光垂直入射时,若观察到到反射光干涉条纹(实线为暗条纹)如图所示。则干涉条纹上A点处所对应的空气薄膜厚度e及工件表面与条纹弯曲处对应的部分:[img=156x107]1802d1027589ff5.png[/img] A: e=3l / 2,凸起 B: e=3l / 2,凹陷 C: e=l / 2,凸起 D: e=l / 2,凹陷
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用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷,当波长为 l 的单色平行光垂直入射时,若观察到到反射光干涉条纹(实线为暗条纹)如图所示。则干涉条纹上A点处所对应的空气薄膜厚度e及工件表面与条纹弯曲处对应的部分:[img=332x214]17da6a67b2c6373.png[/img] A: e=3l / 2,凸起 B: e=l / 2,凸起 C: e=l / 2,凹陷 D: e=3l / 2,凹陷
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用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷,当波长为l 的单色平行光垂直入射时,若观察到到反射光干涉条纹(实线为暗条纹)如图所示。则干涉条纹上A点处所对应的空气薄膜厚度e及工件表面与条纹弯曲处对应的部分:[img=156x107]1802d1024502419.png[/img] A: e=3l / 2,凸起 B: e=3l / 2,凹陷 C: e=l / 2,凸起 D: e=l / 2,凹陷
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用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷,当波长为l 的单色平行光垂直入射时,若观察到到反射光干涉条纹(实线为暗条纹)如图所示。则干涉条纹上A点处所对应的空气薄膜厚度e及工件表面与条纹弯曲处对应的部分:[img=156x107]1803a8c3c49e39a.png[/img] A: e=3l / 2,凸起 B: e=3l / 2,凹陷 C: e=l / 2,凸起 D: e=l / 2,凹陷
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用两块平板玻璃构成一个空气劈尖,并用波长为 λ 的单色光垂直入射,观察到一系列干涉直条纹,其零级在劈尖的交棱处,但发现第 k 级暗纹有局部弯曲,弯曲部分的顶点,恰好与第 ( k – 1 ) 级暗纹相切,已知构成空气劈尖的一块玻璃的表面是标准平面,则可知另一玻璃的表面对应于条纹弯曲处的局部缺陷为 A: 凸起,且高度为 λ / 4 B: 凸起,且高度为 λ / 2 C: 凹陷,且深度为 λ / 4 D: 凹陷,且深度为 λ / 2