可以采用XRD手段对微晶硅薄膜的结晶状况进行表征,对某一结晶率为75%的硅薄膜进行XRD测试,则在20-70°范围内有( )衍射峰出现。
A: (111)
B: (220)
C: (311)
D: (200)
A: (111)
B: (220)
C: (311)
D: (200)
举一反三
- 在XRD上检测无择优取向的面心立方多晶粉末样品，第二个出现的衍射峰是（ ）。 A: 110 B: 111 C: 200 D: 220
- 在XRD上检测无择优取向的体心立方多晶粉末样品，前三个衍射峰是（ ）。 A: 110/200/211 B: 100/110/111 C: 111/200/220
- 结晶与非晶聚合物材料均可以用XRD及POM表征分析
- 微晶硅三结叠层薄膜太阳能电池主要包括（ ）。 A: 非晶硅/非晶硅锗/微晶硅结构 B: 非晶硅/微晶硅/微晶硅结构 C: 微晶硅/非晶硅/微晶硅结构 D: 非晶硅/非晶硅/微晶硅结构
- 薄膜发电技术采用薄膜太阳能电池，硅基薄膜太阳能电池属于非晶硅结构。关于薄膜太阳能电池说法错误的是