结晶与非晶聚合物材料均可以用XRD及POM表征分析
举一反三
- FTIR和XRD均可用于物质组成确定，其中FTIR和XRD分别属于何种分析方法？ A: FTIR：成分分析XRD：成分分析 B: FTIR：成分分析XRD：物相分析 C: FTIR：物相分析XRD：物相分析 D: FTIR：物相分析XRD：成分分析
- XRD图可以表征 A: 无机材料晶体结构 B: 无机材料晶相组成 C: 晶体颗粒大小 D: 以上都对
- 用X射线法表征结晶聚合物，结果出现（）和（）共存，这说明结晶聚合物中（）和（）共存。
- 可以采用XRD手段对微晶硅薄膜的结晶状况进行表征,对某一结晶率为75%的硅薄膜进行XRD测试,则在20-70°范围内有( )衍射峰出现。 A: (111) B: (220) C: (311) D: (200)
- 聚合物复合材料进行断口分析，综合制样、经济和效果分析，可以选择的最佳表征方式是： A: AFM B: TEM C: SEM D: XRD