电离室自动曝光控制是利用了 ( )
A: 光电效应
B: 气体电离
C: 计时器定时
D: 康普顿效应
A: 光电效应
B: 气体电离
C: 计时器定时
D: 康普顿效应
B
举一反三
- 电离室的自动曝光控制系统，其电离室块控制原理是： A: 收集光电转换电荷 B: 收集液体电离电荷 C: 收集气体电离电荷 D: 收集固体电离电荷
- 关于电离室控时自动曝光控制叙述错误的是（） A: 利用气体的电离效应 B: X线强度大时，电离电流大 C: X线强度大时，曝光时间长 D: 电容充电电流与X线曝光量成反比 E: 电离电流小时，曝光时间长
- 关于电离室控时自动曝光控制装置叙述错误的是 A: 利用气体的电离效应 B: X线强度大时,电离电流大 C: 电容充电电流与X线曝光量成反比 D: 电离电流小时,曝光时间长 E: 位于被检部位与IR之间
- 在（）中，光子以全部能量转换成电子动能。 A: 光电效应 B: 康普顿效应 C: 电子对生成效应 D: 电离效应
- α粒子、β粒子与物质相互作用主要形式有（） A: 电离 B: 激发 C: 光电效应 D: 康普顿效应 E: 电子对效应
内容
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X线与物质相互作用不产生电离过程的是（） A: 相干散射 B: 光电效应 C: 康普顿效应 D: 电子对效应 E: 光核反应
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当使用绝缘体固体模体测量电子束的吸收剂量时，耗尽能量的电子被阻止在介质中，从而改变和影响了电离室在继后的照射中所收集的实际的电离电荷，这种现象称为（） A: 光电效应 B: 康普顿效应 C: 电子对效应 D: 电荷积累效应 E: 电离室干效应
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当使用绝缘体固体模体测量电子束的吸收剂量时，耗尽能量的电子被阻止在介质中，从而改变和影响了电离室在继后的照射中所收集的实际的电离电荷，这种现象称为（） A: 光电效应 B: 康普顿效应 C: 电子对效应 D: 电荷积累效应 E: 电离室干效应
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光子与物质相互作用中唯一不产生电离的过程是（）。 A: 光电效应 B: 康普顿效应 C: 电子对效应 D: 相干散射 E: 光核反应
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X线与物质的作用中，产生电离过程的是： A: 相干散射 B: 光电效应 C: 光核反应 D: 电子对效应 E: 康普顿效应