关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 公告：维护QQ群：833371870，欢迎加入！公告：维护QQ群：833371870，欢迎加入！公告：维护QQ群：833371870，欢迎加入！ 2022-06-26 半机械半电子测量系统在测量中每次可以测量多个控制点，或多个控制点之间的位置参数。（) 半机械半电子测量系统在测量中每次可以测量多个控制点，或多个控制点之间的位置参数。（) 答案： 查看 举一反三 半机械半电子测量系统在测量中每次只能测量一个控制点，或两个控制点之间的位置参数，不能同时测量多个控制点。 半机械半电子测量系统在测量中每次只能测量一个控制点，或两个控制点之间的位置参数，不能同时测量多个控制点。（) 控制测量分为平面控制测量和高程控制测量，平面控制测量确定控制点的平面位置(X，Y)，高程控制测量确定控制点的高程(H)。() 当测区首级控制点的密度不能满足测图工作需要时，可在首级控制点间进行控制点的加密。这种测定图根点位置的测量工作，称为()。 A: 首级控制测量 B: 图根控制测量 C: 图根控制点 D: 图根点 超声波电子测量系统可以同时对多个点进行实时测量。（ ）
