半机械半电子测量系统在测量中每次只能测量一个控制点，或两个控制点之间的位置参数，不能同时测量多个控制点。
举一反三
- 半机械半电子测量系统在测量中每次只能测量一个控制点，或两个控制点之间的位置参数，不能同时测量多个控制点。（)
- 半机械半电子测量系统在测量中每次可以测量多个控制点，或多个控制点之间的位置参数。（)
- 当测区首级控制点的密度不能满足测图工作需要时，可在首级控制点间进行控制点的加密。这种测定图根点位置的测量工作，称为()。 A: 首级控制测量 B: 图根控制测量 C: 图根控制点 D: 图根点
- 控制测量分为平面控制测量和高程控制测量，平面控制测量确定控制点的平面位置(X，Y)，高程控制测量确定控制点的高程(H)。()
- 直接为测绘地形图而建立的控制测量称为图根控制测量，其控制点称为图根控制点，简称图根点。