硅片的表面腐蚀通常使用 、 两种。
酸性腐蚀;碱性腐蚀
举一反三
内容
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硅片研磨及清洗后为什么要进行化学腐蚀?
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有限表面源扩散与离子注入的杂质分布都满足高斯函数,两种掺杂工艺杂质最高浓度位置都在硅片表面。
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简述硅片表面污染的来源。
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CMP是一种表面()的技术,它通过硅片和一个抛光头之间的相对运动来平坦化硅片表面,在硅片和抛光头之间有(),并同时施加()。
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为了去除表面的杂质、缺陷,进一步去除硅片表面微量的损伤层,需要进行的工艺是 A: 倒角 B: 磨片 C: 化学腐蚀 D: CMP