最常用于测试半导体材料电阻率的方法是（）。
A: 四探针法
B: 范德堡法
C: 扩展电阻法
D: 两探针法
A: 四探针法
B: 范德堡法
C: 扩展电阻法
D: 两探针法
A
举一反三
内容
- 0
四探针法测试，C的大小取决于四探针的（）和针距。
- 1
单晶硅的电阻率测试可采用两探针法和四探针法。 A: 正确 B: 错误
- 2
下列选项中,能够测试单晶硅棒的电阻率的方法是: A: 热探针法 B: 四探针法 C: 光电导衰减法 D: 化学腐蚀法
- 3
单晶硅棒的电阻率测量可采用（）法。 A: 四探针法 B: 热探针法 C: 光电导衰减法 D: 色差法
- 4
测量电阻率和方块电阻的方法包括： A: 四探针法 B: 晶圆映射 C: van der Pauw D: 涡流