结深的测量方法有
A: 磨角染色法
B: 滚槽法
C: 范德堡法
D: 四探针法
A: 磨角染色法
B: 滚槽法
C: 范德堡法
D: 四探针法
A,B
举一反三
内容
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单晶硅导电类型测量的方法是: A: 磨角染色法 B: 滚槽法 C: 热探针法 D: 光电导衰减法
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确定单晶硅导电类型的方法是 。 A: 热探针法 B: 四探针法 C: 三探针法 D: 范德堡法
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确定单晶硅导电类型的方法是 A: 四探针法 B: 热探针法 C: 范德堡法 D: 磨角法
- 3
最常用于测试半导体材料电阻率的方法是（）。 A: 四探针法 B: 范德堡法 C: 扩展电阻法 D: 两探针法
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扩散工艺中杂质浓度分布的测量可以采用（）法测试。 A: 四探针法 B: C-V法 C: 热探针法 D: 磨角染色法