关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 公告：维护QQ群：833371870，欢迎加入！公告：维护QQ群：833371870，欢迎加入！公告：维护QQ群：833371870，欢迎加入！ 2022-10-28 探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。 探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。 答案： 查看 举一反三 提高探头频率，减少晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力。 提高探头频率，减小晶片尺寸不可以提高近表面缺陷的探测能力 探头的晶片尺寸增加对探头的（）有不利影响。 A: 声束的指向性 B: 近场区长度 C: 远距离缺陷检出能力 D: 以上都是 13.探头的晶片尺寸增加对探头的()有不利影响。 A: 声束的指向性 B: 近场区长度 C: 远距离缺陷检出能力 D: 检测灵敏度 探头的晶片尺寸增加对探头的（）有不利影响。 A: A 声束的指向性 B: B 近场区长度 C: C 远距离缺陷检出能力 D: D 以上都是
