关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 公告：维护QQ群：833371870，欢迎加入！公告：维护QQ群：833371870，欢迎加入！公告：维护QQ群：833371870，欢迎加入！ 2022-10-28 提高探头频率，减少晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力。 提高探头频率，减少晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力。 答案： 查看 举一反三 提高探头频率，减小晶片尺寸不可以提高近表面缺陷的探测能力 探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。 双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。 (20868)()双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。（） 频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。
