可用下述那种方法减少滴定过程中的试剂误差()。
A: 对照试验
B: 空白试验
C: 仪器校准
D: 多测几次
A: 对照试验
B: 空白试验
C: 仪器校准
D: 多测几次
B
举一反三
- 可用下述那种方法减少滴定过程中的偶然误差( ) A: 进行对照试验 B: 进行空白试验 C: 进行仪器校准 D: 多次测量求平均值
- 可用下述哪种方法减少滴定过程中的偶然误差（） A: 进行对照试验 B: 进行空白试验 C: 进行仪器校准 D: 进行多次平行测定
- 可用如下哪种试验方法减少测定过程中的偶然误差 A: 对照试验 B: 空白试验 C: 多次平行测定 D: 校准仪器
- 可用下述哪种方法减少测定过程中的偶然误差( )。 A: 进行对照试验 B: 进行空白试验 C: 进行仪器校准 D: 进行分析结果校正 E: 增加平行试验的次数
- 消除或减小试剂中微量杂质引起的误差常用的方法是（） A: 空白试验 B: 对照试验 C: 平行试验 D: 校准仪器
内容
- 0
在滴定分析中，所用试剂含有微量被测组分，应该进行（）。 A: 对照试验\n B: 空白试验\n C: 校正方法\n D: 校准仪器
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减少系统误差的方法有（） A: 进行对照试验 B: 进行空白试验 C: 提纯试剂 D: 校准仪器、量具 E: 增加平行试验
- 2
重量法测定SiO2时,试液中硅酸沉淀不完全引起的误差可用()方法消除或减少。 A: 空白试验 B: 对照试验 C: 多次平行试验 D: 校准试验
- 3
可用下列那种方法减少分析测试中的偶然误差 A: 对照试验 B: 空白试验 C: 增加平行测试次数 D: 仪器矫正
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可用以下哪种方法减小分析测定中的随机误差？（ ） A: 对照试验 B: 增加平行试验的次数 C: 校准仪器 D: 空白试验