EPMA采用的电子束激发源可以被聚焦，可以进行微区（1µm）、有损、快速样品检测。
举一反三
- 扫描电子显微镜: A: 利用聚焦电子束在样品表面、内部进行扫描成像 B: 入射电子束的束斑直径是SEM分辨率的极限 C: 景深大，成像富有立体感 D: 配有X射线能谱仪装置，可进行微区的成分价键分析
- 扫描电子显微镜主要是利用聚焦电子束对物质作用产生的（ ）对物质进行微区形貌分析。 A: 二次电子 B: 透射电子 C: 俄歇电子 D: 近核电子
- 《食品安全法》中规定采用国家规定的快速检测方法对食用农产品进行抽查检测，被抽查人对检测结果有异议的，可以申请复检。复检可以采用快速检测方法（）
- （）是用细聚焦的电子束轰击样品表面，通过电子 与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等 对样品表面或断口形貌进行观察和分析。 A: 透射电子显微镜 B: 扫描电子显微镜
- 入射电子束入射固体样品表面会激发()信号。 A: 背散射电子 B: 吸收电子 C: 透射电子 D: 俄歇电子