关于A型标准试片的叙述，错误的是（）
A: 分数值愈大，显示磁痕所需的有效磁场强度愈大
B: 分数值愈小，检测缺陷的灵敏度愈高
C: 能检测被检工件表面的磁场方向和有效磁化区
D: 只适用于连续法不适用于剩磁法
A: 分数值愈大，显示磁痕所需的有效磁场强度愈大
B: 分数值愈小，检测缺陷的灵敏度愈高
C: 能检测被检工件表面的磁场方向和有效磁化区
D: 只适用于连续法不适用于剩磁法
举一反三
- 关于A1型标准试片的叙述，正确的是（） A: ①分数值愈大，显示磁痕所需的有效磁场强度愈大 B: ②分数值愈小，检测缺陷的灵敏度愈高 C: ③不能检测被检工件表面的磁场方向和有效磁化区 D: ④适用于连续和剩磁法检测
- 下列叙述中标准试片使用不正确是（）。 A: 根据工件检测所需有效磁场强度，选用不同灵敏度试片 B: 将有糟的一面与工件受检面接触 C: 适用于连续法检测 D: 适用于剩磁法检测
- 下列叙述中标准试片使用不正确是()。 A: 根据工件检测所需的灵敏度等级,选用不同刻槽深度的灵敏度试片 B: 将有槽的一面与工件受检面接触 C: 适用于连续法检测 D: 适用于剩磁法检测
- 29.下列叙述中标准试片使用不正确的是( )。 A: 根据工件检测所需的灵敏度等级,选用不同刻槽深度的灵敏度试片 B: 将有槽的面与工件受检面接触 C: 适用于连续法检测 D: 适用于剩磁法检测
- 干法优于湿法的地方是（）。 A: 对细微表面裂纹检测灵敏度高 B: 可用于剩磁法和连续法 C: 对近表面缺陷的检测灵敏度高 D: 不污染工件