关于A型标准试片的叙述，错误的是（）
A: 分数值愈大，显示磁痕所需的有效磁场强度愈大
B: 分数值愈小，检测缺陷的灵敏度愈高
C: 能检测被检工件表面的磁场方向和有效磁化区
D: 只适用于连续法不适用于剩磁法
A: 分数值愈大，显示磁痕所需的有效磁场强度愈大
B: 分数值愈小，检测缺陷的灵敏度愈高
C: 能检测被检工件表面的磁场方向和有效磁化区
D: 只适用于连续法不适用于剩磁法
A
举一反三
- 关于A1型标准试片的叙述，正确的是（） A: ①分数值愈大，显示磁痕所需的有效磁场强度愈大 B: ②分数值愈小，检测缺陷的灵敏度愈高 C: ③不能检测被检工件表面的磁场方向和有效磁化区 D: ④适用于连续和剩磁法检测
- 下列叙述中标准试片使用不正确是（）。 A: 根据工件检测所需有效磁场强度，选用不同灵敏度试片 B: 将有糟的一面与工件受检面接触 C: 适用于连续法检测 D: 适用于剩磁法检测
- 下列叙述中标准试片使用不正确是()。 A: 根据工件检测所需的灵敏度等级,选用不同刻槽深度的灵敏度试片 B: 将有槽的一面与工件受检面接触 C: 适用于连续法检测 D: 适用于剩磁法检测
- 29.下列叙述中标准试片使用不正确的是( )。 A: 根据工件检测所需的灵敏度等级,选用不同刻槽深度的灵敏度试片 B: 将有槽的面与工件受检面接触 C: 适用于连续法检测 D: 适用于剩磁法检测
- 干法优于湿法的地方是（）。 A: 对细微表面裂纹检测灵敏度高 B: 可用于剩磁法和连续法 C: 对近表面缺陷的检测灵敏度高 D: 不污染工件
内容
- 0
关于标准试块，正确是的（） A: 用于综合性能试验 B: 用于检测被检工件表面的磁场方向 C: 用于连续法检验 D: 能看出各种电流磁场在试块上大致的渗入深度
- 1
（）对检测近表面缺陷的灵敏度较高。 A: 连续法 B: 剩磁法 C: 周向磁化 D: 纵向磁化
- 2
对A1型标准试片的使用叙述错误的是()。 A: A1型试片只适用于连续法 B: 需将有槽的一面朝向工件贴于检测面上 C: A1:30/100试片的灵敏度等级低于A1:15/100试片 D: 施加磁悬液时可以不采用连续法
- 3
（）方法对检测近表面缺陷的灵敏度较高。 A: 连续法 B: 剩磁法 C: 周向磁化 D: 纵向磁化
- 4
哪种方法对检测的近表面缺陷的灵敏度较高？ A: 连续法； B: 剩磁法； C: 周向磁化； D: 纵向磁化