下列叙述中标准试片使用不正确是（）。
A: 根据工件检测所需有效磁场强度，选用不同灵敏度试片
B: 将有糟的一面与工件受检面接触
C: 适用于连续法检测
D: 适用于剩磁法检测
A: 根据工件检测所需有效磁场强度，选用不同灵敏度试片
B: 将有糟的一面与工件受检面接触
C: 适用于连续法检测
D: 适用于剩磁法检测
D
举一反三
- 下列叙述中标准试片使用不正确是()。 A: 根据工件检测所需的灵敏度等级,选用不同刻槽深度的灵敏度试片 B: 将有槽的一面与工件受检面接触 C: 适用于连续法检测 D: 适用于剩磁法检测
- 29.下列叙述中标准试片使用不正确的是( )。 A: 根据工件检测所需的灵敏度等级,选用不同刻槽深度的灵敏度试片 B: 将有槽的面与工件受检面接触 C: 适用于连续法检测 D: 适用于剩磁法检测
- 关于A型标准试片的叙述，错误的是（） A: 分数值愈大，显示磁痕所需的有效磁场强度愈大 B: 分数值愈小，检测缺陷的灵敏度愈高 C: 能检测被检工件表面的磁场方向和有效磁化区 D: 只适用于连续法不适用于剩磁法
- 关于A1型标准试片的叙述，正确的是（） A: ①分数值愈大，显示磁痕所需的有效磁场强度愈大 B: ②分数值愈小，检测缺陷的灵敏度愈高 C: ③不能检测被检工件表面的磁场方向和有效磁化区 D: ④适用于连续和剩磁法检测
- 对A1型标准试片的使用叙述错误的是()。 A: A1型试片只适用于连续法 B: 需将有槽的一面朝向工件贴于检测面上 C: A1:30/100试片的灵敏度等级低于A1:15/100试片 D: 施加磁悬液时可以不采用连续法
内容
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A型标准试片使用叙述错误的是（）。 A: A型试片只使用于连续法 B: 需将有槽的一面朝向工件帖于检测面上 C: A1-30/100试片低于A1-15/100试片的灵敏度等级 D: 施加磁悬液时可以不采用连续法
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干法优于湿法的地方是（）。 A: 对细微表面裂纹检测灵敏度高 B: 可用于剩磁法和连续法 C: 对近表面缺陷的检测灵敏度高 D: 不污染工件
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A型标准试片正确的使用为( ） A: 用来估价磁场的大小是否满足灵敏度的要求 B: 需将有槽的一面朝向工件贴于探伤面上 C: 施加磁粉时必须使用连续法 D: 以上都是
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A型灵敏度试片正确的使用为 A: 估计磁场的大小是否满足灵敏度的要求； B: 须将有槽的一面朝向工件贴于探伤表面上； C: 施加磁粉时必须使用连续法； D: 以上都是
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18.下列说法错误的是( ) A: 溶剂去除型着色检测系统适用于检测大工件局部 B: 水洗型着色检测系统适用检测表面光洁度高的工件 C: 后乳化型荧光检测系统适用于检测疲劳裂纹 D: 水洗型荧光检测系统适用于检测表面粗糙的工件