四探针法测试，C的大小取决于四探针的（）和针距。
排列方式
举一反三
内容
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单晶硅的电阻率测试可采用两探针法和四探针法。
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可以测量少子寿命的实验是 A: 霍尔效应 B: PN结的CV特性测试 C: 瞬态光电导测试 D: 四探针测试
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A1型题 根据标记物的不同核酸探针可分为（） A: 放射性探针和非放射性探针 B: 单链探针和双链探针 C: DNA探针和RNA探针 D: 碱性磷酸酶探针和辣根过氧化物酶探针 E: 生物素探针和地高辛探针
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( )可以实现探针测试卡的探针和晶圆的每个晶粒上的测试模块之间一一对应。 A: 测试机 B: 探针台 C: 塑封机 D: 真空包装机
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接地电阻测试仪中，电位探针P′、电流探针C′分别与被测接地极之间的直线距离表述正确的是（ ）。 A: 电位探针P′距被测接地极为20m B: 电流探针C′距被测接地极为40m C: 电位探针P′距被测接地极为10m D: 电流探针C′距被测接地极为20m