测量分析可将各种来源的变差量化，如来自（）。测量分析也可将来自测量系统的变差作为总过程变差、或总容许变差的一部分予以描述。
A: 测量人员的变差
B: 测量结果的变差
C: 测量仪器自身的变差
D: 测量过程的变差
A: 测量人员的变差
B: 测量结果的变差
C: 测量仪器自身的变差
D: 测量过程的变差
举一反三
- 以下哪种原因可能导致测量结果的变差（）。 A: 零件的变差 B: 测量人内部变差 C: 测量仪器的变差 D: 测量环境导致的变差
- 测量系统变差被（）影响。 A: 自由度和变差的可归属来源assignable B: 只是人和设备的变差来源 C: 制造设备的过度调整 D: 仅仅是变差的特殊原因，是测量系统变差的一部分
- 测量系统的（）通常被称为测量设备的变差。
- 对再现性说法正确的是：（）。 A: 由不同操作人员，采用相同的测量仪器，测量不同零件的同一特性时测量平均值的变差 B: 由不同操作人员，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差 C: 由不同操作人员，采用不同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差 D: 由相同操作人员，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差
- 对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。