测量系统变差被（）影响。
A: 自由度和变差的可归属来源assignable
B: 只是人和设备的变差来源
C: 制造设备的过度调整
D: 仅仅是变差的特殊原因，是测量系统变差的一部分
A: 自由度和变差的可归属来源assignable
B: 只是人和设备的变差来源
C: 制造设备的过度调整
D: 仅仅是变差的特殊原因，是测量系统变差的一部分
举一反三
- 和所有过程类似，测量系统的变差来源都是因为：（） A: 确定和不确定度 B: 仅变差的人力和仪器来源 C: 普通原因和特殊原因 D: 制造设备的过分调整
- 测量分析可将各种来源的变差量化，如来自（）。测量分析也可将来自测量系统的变差作为总过程变差、或总容许变差的一部分予以描述。 A: 测量人员的变差 B: 测量结果的变差 C: 测量仪器自身的变差 D: 测量过程的变差
- 以下哪种原因可能导致测量结果的变差（）。 A: 零件的变差 B: 测量人内部变差 C: 测量仪器的变差 D: 测量环境导致的变差
- 测量系统的（）通常被称为测量设备的变差。
- 对于产品控制，测量系统的变差必须比（）小。 A: 制造过程变差 B: 规范限值的中间值 C: 量具和量具之间的变差 D: 规范限值