测量系统变差被（）影响。
A: 自由度和变差的可归属来源assignable
B: 只是人和设备的变差来源
C: 制造设备的过度调整
D: 仅仅是变差的特殊原因，是测量系统变差的一部分
A: 自由度和变差的可归属来源assignable
B: 只是人和设备的变差来源
C: 制造设备的过度调整
D: 仅仅是变差的特殊原因，是测量系统变差的一部分
A
举一反三
- 和所有过程类似，测量系统的变差来源都是因为：（） A: 确定和不确定度 B: 仅变差的人力和仪器来源 C: 普通原因和特殊原因 D: 制造设备的过分调整
- 测量分析可将各种来源的变差量化，如来自（）。测量分析也可将来自测量系统的变差作为总过程变差、或总容许变差的一部分予以描述。 A: 测量人员的变差 B: 测量结果的变差 C: 测量仪器自身的变差 D: 测量过程的变差
- 以下哪种原因可能导致测量结果的变差（）。 A: 零件的变差 B: 测量人内部变差 C: 测量仪器的变差 D: 测量环境导致的变差
- 测量系统的（）通常被称为测量设备的变差。
- 对于产品控制，测量系统的变差必须比（）小。 A: 制造过程变差 B: 规范限值的中间值 C: 量具和量具之间的变差 D: 规范限值
内容
- 0
变差的普通原因指的是过程中有多种的变差来源，而这些变差（） A: 造成可预估结果 B: 可通过选择正确的测量系统而完全消除 C: 可以是在控制范围之外的点 D: 并不总是在过程上运行
- 1
对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。
- 2
测量系统分析的目的是为了（）变差源能被更好的理解的。 A: 人为影响 B: 成本超支 C: 测量系统中的变差 D: 缺陷
- 3
以下那些会成为影响实验测量结果的变差来源（） A: 测量人员 B: .实验设备 C: 测量流程 D: 测量环境
- 4
稳定性是在有特殊原因变差的统计控制状态下，是测量系统对同一基准值在不同时间的偏倚的总变差。