表面分析方法有俄歇电子能谱、紫外电子能谱、光电子能谱和（）四种方法。
表面分析方法有俄歇电子能谱、紫外电子能谱、光电子能谱和（）四种方法。
试述X射线光电子能谱与Auger电子能谱各自的特点。
试述X射线光电子能谱与Auger电子能谱各自的特点。
X光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱可用于材料表面成分分析。
X光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱可用于材料表面成分分析。
俄歇电子能谱图与光电子能谱图的表示方法有何不同?为什么?
俄歇电子能谱图与光电子能谱图的表示方法有何不同?为什么?
X射线电子能谱、紫外光电子能谱与俄歇电子能谱的缩写符号分别为______。 A: XPS、UPS与AES； B: UPS、AES与XPS； C: XPS、AES与UPS； D: UPS、XPS与AES。
X射线电子能谱、紫外光电子能谱与俄歇电子能谱的缩写符号分别为______。 A: XPS、UPS与AES； B: UPS、AES与XPS； C: XPS、AES与UPS； D: UPS、XPS与AES。
在下列材料成分分析仪器中，（ ）可测试元素的范围最宽。 A: 俄歇电子能谱 B: X射线光电子能谱 C: X射线波谱仪 D: X射线能谱仪
在下列材料成分分析仪器中，（ ）可测试元素的范围最宽。 A: 俄歇电子能谱 B: X射线光电子能谱 C: X射线波谱仪 D: X射线能谱仪
材料中常用的表征方法XRD是指? A: X射线光电子能谱 B: X射线衍射 C: 俄歇电子能谱 D: 扫描电子显微镜
材料中常用的表征方法XRD是指? A: X射线光电子能谱 B: X射线衍射 C: 俄歇电子能谱 D: 扫描电子显微镜
X射线光电子能谱谱图中可能存在的谱峰有
X射线光电子能谱谱图中可能存在的谱峰有
为什么俄歇电子能谱法不适于分析[tex=0.857x1.0]h610M+sGyf59WggKwaDo1Q==[/tex]与[tex=1.357x1.0]yEoXAearx3QqMHO91aOqBw==[/tex]元素? [tex=0.857x1.0]N7iCrOsS+NNEUUlnsYCi1g==[/tex]射线光电子能谱法呢?
为什么俄歇电子能谱法不适于分析[tex=0.857x1.0]h610M+sGyf59WggKwaDo1Q==[/tex]与[tex=1.357x1.0]yEoXAearx3QqMHO91aOqBw==[/tex]元素? [tex=0.857x1.0]N7iCrOsS+NNEUUlnsYCi1g==[/tex]射线光电子能谱法呢?
1、俄歇电子谱仪的基本原理和特点？ 2、X射线光电子能谱仪的基本原理和特点？
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