根据探测器的不同DR可分为：非晶 型 平板探测器型、非晶 型 平板探测器型多丝正比室扫描型和CCD摄像机型四种
举一反三
- 利用X线使半导体材料产生空穴-电子对的特性,进行X线检测的探测器是( )。 A: 非晶硒平板探测器 B: 非晶硅平板探测器 C: 多丝正比室探测器 D: CCD摄像机型探测器
- 非晶硒平板探测器又称为 型平板探测器
- A1/A2型题 属于DR成像直接转换方式的部件是（）。 A: 闪烁体+CCD摄像机阵列 B: 非晶硒平板探测器 C: 碘化铯+非晶硅探测器 D: 半导体狭缝线阵探测器 E: 多丝正比电离室
- 目前，可用于承载影像的载体包括哪些？（） A: 非晶硅平板探测器 B: 非晶硒平板探测器 C: IP影像板 D: CCD探测器 E: 多丝正比室
- 以下探测器采用线扫描成像技术的有( )。 A: 非晶硒平板探测器 B: 非晶硅平板探测器 C: 多丝正比室气体探测器 D: 闪烁晶体光电二极管线阵探测器 E: 固态半导体CMOS线阵探测器