表面形貌分析的手段包括（）
A: X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）
B: SEM和透射电镜（TEM）
C: 波谱仪（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS）
D: 扫描隧道显微镜（STM）和SEM
A: X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）
B: SEM和透射电镜（TEM）
C: 波谱仪（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS）
D: 扫描隧道显微镜（STM）和SEM
举一反三
- 可用于表征材料表面形貌的测试手段是()。 A: X射线衍射和扫描电子显微镜 B: 扫描电镜和光电子能谱仪 C: 波谱仪和X射线光电子谱仪 D: 原子力显微镜和扫描电子显微镜
- 如果要表征一个样品的形貌，可以采用以下哪种或者哪几种测试技术？ A: 扫描电子显微镜（SEM） B: X射线光电子能谱（XPS） C: 透射电子显微镜（TEM） D: X射线衍射分析（XRD） E: 红外光谱（IR）
- XRD、SEM、TEM、EPMA、DTA分别代表X射线衍射分析、（）、（）、电子探针分析和差热分析分析方法。
- 下列哪一种表征技术可以在纳米尺度上研究物质的特性:( ) A: 扫描电镜(SEM) B: 透射电镜(TEM) C: 扫描隧道显微镜(STM) D: 原子力显微镜(AFM)
- 现在大部分扫描电镜和透射电镜都配备有（ ） A: 波谱仪 B: 能谱仪 C: 扫描线圈