XRD、SEM、TEM、EPMA、DTA分别代表X射线衍射分析、（）、（）、电子探针分析和差热分析分析方法。
扫描电子显微分析；透射电子显微分析
举一反三
- （ ）用于成分分析、形貌观察，以成分分析为主。 A: TEM B: SEM C: 电子探针EPMA D: XRD
- 表面形貌分析的手段包括（） A: X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM） B: SEM和透射电镜（TEM） C: 波谱仪（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS） D: 扫描隧道显微镜（STM）和SEM
- 如果要表征一个样品的形貌，可以采用以下哪种或者哪几种测试技术？ A: 扫描电子显微镜（SEM） B: X射线光电子能谱（XPS） C: 透射电子显微镜（TEM） D: X射线衍射分析（XRD） E: 红外光谱（IR）
- X射线衍射分析是一种相分析方法。
- 下列不是热分析的四大支柱之一的是（） A: 差热分析 B: 热重分析 C: x射线衍射分析 D: 热机械分析
内容
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电子探针X射线波谱及能谱分析有三种基本方法:定点分析、______ 和面分析。
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FTIR和XRD均可用于物质组成确定，其中FTIR和XRD分别属于何种分析方法？ A: FTIR：成分分析XRD：成分分析 B: FTIR：成分分析XRD：物相分析 C: FTIR：物相分析XRD：物相分析 D: FTIR：物相分析XRD：成分分析
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热重分析、微商热重分析、差热分析和差示扫描分析可分别表示为______。 A: TG，DTG，DTA，DSC； B: TG，DTA，DTC，DSC； C: TG，DSC，DTA，DTG； D: TG，DSC，DTG，DTA。
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聚合物复合材料进行断口分析，综合制样、经济和效果分析，可以选择的最佳表征方式是： A: AFM B: TEM C: SEM D: XRD
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电子探针X射线显微分析可以依据样品激发出的特征X射线的（ ）和（ ）能量进行微区成分分析。