用TEM、SEM和STM分别表征某一纳米粒子的尺寸和形貌，其结果会有何不同？
举一反三
- 表征纳米粒子的方法很多，其中通过XRD、SEM、TEM可得到样品哪些方面的信息？
- 表面形貌分析的手段包括（） A: X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM） B: SEM和透射电镜（TEM） C: 波谱仪（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS） D: 扫描隧道显微镜（STM）和SEM
- 下列哪一种表征技术可以在纳米尺度上研究物质的特性:( ) A: 扫描电镜(SEM) B: 透射电镜(TEM) C: 扫描隧道显微镜(STM) D: 原子力显微镜(AFM)
- 可在纳米界别观察细胞表面形貌的检测技术是（） A: TEM B: SEM C: 激光共聚焦检测 D: 荧光显微镜检测
- TEM的测试，可获得纳米材料的形貌信息