在滴定分析中，所用试剂含有微量被测组分，应该进行（）。
A: 对照试验\n
B: 空白试验\n
C: 校正方法\n
D: 校准仪器
A: 对照试验\n
B: 空白试验\n
C: 校正方法\n
D: 校准仪器
B
举一反三
- 在滴定分析中，所用试剂含有微量被测组分，应该进行（） A: 对照试验 B: 空白试验 C: 校正方法 D: 增加测定次数
- 在滴定分析中,所用试剂含有微量被测组分,则应进行（ ）。 A: 空白试验 B: 对照试验 C: 方法校正 D: 增加测定次数
- 可用下述那种方法减少滴定过程中的试剂误差()。 A: 对照试验 B: 空白试验 C: 仪器校准 D: 多测几次
- 消除或减小试剂中微量杂质引起的误差常用的方法是（） A: 空白试验 B: 对照试验 C: 平行试验 D: 校准仪器
- 减少分析测定中偶然误差的方法为（）。 A: 进行对照试验 B: 进行空白试验 C: 进行仪器校准 D: 进行分析结果校正 E: 增加平行试验次数
内容
- 0
减小偶然误差的方法有( ) A: 进行对照试验; B: 进行空白试验; C: 增加测定次数; D: 校准仪器; E: 校正分析方法
- 1
减少系统误差的方法有（） A: 进行对照试验 B: 进行空白试验 C: 提纯试剂 D: 校准仪器、量具 E: 增加平行试验
- 2
减少分析测定中偶然误差的方法为（） A: 进行分析结果校正 B: 进行仪器校准 C: 进行对照试验 D: 进行空白试验 E: 增加平行测定次数
- 3
滴定分析中,若试剂含少量杂质对待测组分影响,可用于消除误差的方法是( ) A: 仪器校正 B: 空白实验 C: 对照分析 D: 方法校正
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系统误差可以用（）、空白试验、校正仪器等方法加以校正。 A: 对照试验 B: 滴定试验 C: 多次平行测定 D: 二次平行测定