用等臂天平称重，第一次在右边秤盘中放置被测物X，在左边秤盘中放置砝码P，使天平平衡，这时被测物的质量为X=PL
A: X=
B: X=
C: X=
D: X=
A: X=
B: X=
C: X=
D: X=
举一反三
- DR成像的检查流程可以简化为 A: X线—被照物—探测器—模数转化—图像形成 B: 被照物—X线—探测器—模数转换—图像形成 C: X线—被照物—模数转化—探测器—图像形成 D: X线—模数转化—被测物—探测器—图像形成
- 用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（） A: 内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近 B: 内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近 C: 内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大 D: 两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
- 托盘天平使用时，砝码放在左边，称量物放在右边（）
- 计算附合导线坐标增量闭合差(fx=、fy=)。 A: fx=∑△X测-∑△X理=∑△X测-（X终+X始） B: fx=∑△X测-∑△X理=∑△X测-（X终-X始） C: Fy=∑△Y测-∑△Y理=∑△Y测-（Y终－Y始） D: Fy=∑△Y测-∑△Y理=∑△Y测-（Y始-Y终）
- 【单选题】模拟X 线检查程序可以简化为 () A.X 线 → 被照物 → 信号 → 检测 → 图像形成 B. 被照物 →X 线 → 信号 → 检测 → 图像形成 C. X 线 → 被照物 → 检测 → 图像形成 → 信号 D. 被照物 →X 线 → 检测 → 信号 → 图像形成 E. X 线 → 被照物 → 检测 → 信号 → 图像形成 A. A.X 线 → 被照物 → 信号 → 检测 → 图像形成 B. B. 被照物 →X 线 → 信号 → 检测 → 图像形成 C. C. X 线 → 被照物 → 检测 → 图像形成 → 信号 D. D. 被照物 →X 线 → 检测 → 信号 → 图像形成 E. E. X 线 → 被照物 → 检测 → 信号 → 图像形成