• 2022-06-30
    X线头影测量的主要应用有
    A: 可对牙牙合、颅面畸形作诊断分析
    B: 可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
    C: 可确定错骀畸形的矫治设计
    D: 可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
    E: 可研究颅面生长发育