X线头影测量的主要应用有（）
A: 可研究颅面生长发育
B: 可对牙、颅面畸形作诊断分析
C: 可确定错畸形的矫治设计
D: 可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
E: 可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
A: 可研究颅面生长发育
B: 可对牙、颅面畸形作诊断分析
C: 可确定错畸形的矫治设计
D: 可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
E: 可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
举一反三
- X线头影测量的主要应用有 A: 可对牙牙合、颅面畸形作诊断分析 B: 可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化 C: 可确定错骀畸形的矫治设计 D: 可作为外科正畸诊断和矫治设计依据 E: 可研究颅面生长发育
- 不属于X线头影测量可做的分析是 A: 颅面部生长发育 B: 双侧髁突对称性 C: 牙、颌、面畸形的机制分析 D: 外科正畸的诊断和分析 E: 矫治前后颌、颅面结构变化
- X线头影测量可做如下分析，除了（） A: 颅面部生长发育 B: 双侧髁突对称性 C: 牙、（牙合）、面畸形的机制分析 D: 外科正畸的诊断和分析 E: 矫治前后牙、（牙合）、颅面结构变化
- X线头影测量可做如下分析，除了（）. A: ['颅面部生长发育 B: 双侧髁突对称性 C: 牙、、面畸形的机制分析 D: 外科正畸的诊断和分析 E: 矫治前后牙、、颅面结构变化
- X线头影测量可做到如下分析,除了() A: 颅面部生长发育 B: 双侧髁突对称性 C: 牙,牙合,面畸形的机制分析 D: 外科正畸的诊断和分析 E: 矫治前后牙合,颅面结构变化